Czechia – Scanning electron microscopes – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace
Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detai
Opportunity description
Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy. Procedure: open. Estimated value: 31,452,000 CZK. Review the original TED notice for the complete requirement, lots, amendments and attachments.
Business details are available after sign in
Codes, capabilities, evidence, buyer details and marketplace actions are withheld from the public HTML and API response.